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初めての高速シリアル・インターフェース測定 WEBセミナ

 

～最新トレンドと求められる計測技術を徹底解説～

 

[参加費無料] 　4/18(火)開催

 

 

高速シリアル・インタフェースは今日のIT技術を支えるキー・テクノロジです。

装置内部のインタフェースはメモリを除き、すべてシリアル化。

さらにその時代が求める要件に応じて、より高速で信頼性の高い通信を実現するために

進化してきました。
今回は、テクトロニクスの高速シリアル・インタフェース分野のアプリケーション・エンジニアを

長年務め、現在はアリオン株式会社 技術／営業スーパーバイザーを務める

高速シリアル・インタフェース技術パートナー 畑山 仁氏が

今日の電子機器設計において重要な技術の一つである高速シリアル・インタフェース技術の

最新トレンドと今後の方向性について説明し、

それに対応する計測技術も合わせてご紹介します。

 

 

【アジェンダ】

 

1、高速シリアル・インタフェースのトレンド：

　　主な分野でのPCIE、USB4、車載など最新規格について簡単にご説明します。

 

2、高速化実現にあたっての技術トレンド：

　　高速シリアル・インタフェースには、多くの共通技術があります。

　　ここでは、差動信号、クロックリカバリなどの基本技術に加え、

　　イコライザや多値化技術をご紹介します。

 

3、半導体製造手法の新潮流とシリアル・インタフェースの未来：

　　「チップレット」がもたらす高速シリアル・インタフェースのIO革命について

　　ご説明します。

 

4、どう測るか。シリアル・インタフェースの指標であるBERについて触れ、

　　アイとジッタの計測のポイントについて紹介します。

 

5、質疑応答

 

上記1～5の内容をPart1、Part2の2セッションに渡って解説します。

 

 

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