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Update 2022.02.17
Keithley オンライン・セミナ : 見逃した方必見 ~DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで~

 

 

 

DC計測の基礎~半導体パラメトリック測定まで、

Keithley Days2021をはじめ、昨年開催したWebセミナで

特に人気の高かった8セッションをピックアップして再度お送りします。

 

 

日程:3月16日(水)~3月17日(木) 10:00~15:00

 

セッション詳細こちら

 

 

3月16日(水)

・ 不安や迷いを解消!最適なDC測定器の選び方

・ SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト

・ 恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法

・ PLCによる計測器制御簡略化のヒント~通信・制御トラブルを最小限に

 

3月17日(木)

・ 半導体パラメータ・アナライザの基礎Webセミナ

    ~半導体パラメータ・アナライザを用いた電気特性評価の基礎を学ぶ~”

・ ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ

・ ”新時代こそ重要!材料評価のための信頼性評価試験ソリューション 

・ SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源/電子負荷性能について

 

 

<対象のお客様>

半導体や電子部品の検査、製造メーカ

半導体や電子部品の検査機器メーカ

半導体、素材、バイオ関連の研究所、大学

 

※半導体ダイオード、トランジスタ、MOSFETなど、電子部品はセンサ、DC-DCコンバータ、

バッテリ、光学センサなど

 

 

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