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DC計測の基礎～半導体パラメトリック測定まで、

Keithley Days2021をはじめ、昨年開催したWebセミナで

特に人気の高かった８セッションをピックアップして再度お送りします。

 

 

日程：3月16日（水）～3月17日（木） 10:00～15:00

 

セッション詳細こちら

 

 

3月16日（水）

・　不安や迷いを解消！最適なDC測定器の選び方

・　SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト

・　恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法

・　PLCによる計測器制御簡略化のヒント～通信・制御トラブルを最小限に

 

3月17日（木）

・　半導体パラメータ・アナライザの基礎Webセミナ

　　　　～半導体パラメータ・アナライザを用いた電気特性評価の基礎を学ぶ～”

・　ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ

・　”新時代こそ重要！材料評価のための信頼性評価試験ソリューション　

・　SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源／電子負荷性能について

 

 

＜対象のお客様＞

半導体や電子部品の検査、製造メーカ

半導体や電子部品の検査機器メーカ

半導体、素材、バイオ関連の研究所、大学

 

※半導体ダイオード、トランジスタ、MOSFETなど、電子部品はセンサ、DC-DCコンバータ、

バッテリ、光学センサなど

 

 

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