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ダイオードのリーク電流測定

エーディーシーの計測電源は、ISVM（電流印加電圧測定）とVSIM（電
圧印加電流測定）の２つの方式の測定が可能です。
従って、通常のダイオードのI-V特性は、ISVMで測定できるほか、
VSIMを使用して、ダイオードに逆バイアス電圧を印加して電流測定
することで、極めて微少（10ｆA程度まで：計測電源の種類により異
なる）なリーク電流の測定が可能となります。